事業案内　テスタラインアップ

テスタ種類

メーカ名

テスト技術

■ダイオード（ツェナ含む）

SM-1050	國洋電機工業株式会社	マルチチップの分割測定による高速化。（従来比1/2）
941-TT	株式会社テセック	2個同時測定による高速化。（従来比1/2）

■トランジスタ（IGBT・RF含む）

881-TT/981-TT 941-TT EM-20A/21	株式会社テセック株式会社テセック（株）東京精密	超低ON抵抗測定技術（従来デバイスと比較すると1/10以下。［typ.2.5mΩ］）
R2172 RF計測器	株式会社アドバンテストアジレント・テクノロジー株式会社他	RF最先端高調波(6GHz帯)のテスト技術。

■リニア（レギュレータ、ディテクタ、ホール素子）

SX-1300 SX-2100	株式会社スパンドニクス	低価格テスタとテストボードﾞを組合せ、多目的/多用途製品への対応が可能
TS1000/100	横河電機株式会社	多数個取りに対応。（最大128ピン）

■ロジックIC、ミックスドIC

TS1000/100
TS6000

LSIの測定に対応可能。

■メモリIC（S-EEPROM、P-EEPROM）

T5361 T5363/63P HA5060S	株式会社アドバンテスト株式会社アドバンテスト日立DECO	大規模製品の多数個取りが可能。（最大32個同測）
SEP2000 SXE-4D	株式会社藤田製作所山田電音株式会社	低価格テスタによる小中規模製品のテスト対応。（最大4個同測）

■マイコン搭載（セキュリティIC）

H1250B
TS6000

メモリテスタ及びロジックテスタを用いたテスト技術。

■HPA（RFモジュール）

HP84000

ME7856A

ヴェリジー株式会社
アンリツ株式会社

・高周波、複合デバイス（APC内蔵,EDGE内蔵）のテスト技術。
・高周波(ANT-SW、LNA)のテスト技術。

■RFIDデバイス

RF計測器

非接触RFIDデバイスのテスト技術。（高精度/高速テスト）